Сканирующая зондовая нанолаборатория NTEGRA Spectra. NT-MDT, Зеленоград, Россия. Год выпуска 2006 (модернизирована в 2009 и 2020 годах).
Используемое научное оборудование: сканирующий зондовый микроскоп NTEGRA
Spectra
Перечень услуг - Сканирующая зондовая микроскопия
1. Измерение морфологии рельефа поверхности.
2. Измерение распределения электрических свойств (сопротивления растекания, поверхностного потенциала, производной ёмкости по высоте, силы электростатического взаимодействия).
3. Измерение магнитных свойств поверхности (силы магнитного взаимодействия).
4. Измерение локальных механических свойств поверхности (модуля Юнга, жесткости, сил адгезии).
Перечень методик выполнения измерений
1. Методика измерений пространственных размеров методом сканирующей зондовой микроскопии
2. Методика измерений сопротивления растекания методом контактной сканирующей зондовой микроскопии
3. Методика измерений локального поверхностного потенциала методом зонда Кель-вина.
4. Методика измерения магнитных сил методом магнитно-силовой микроскопии.
5. Методика измерения локальных механических свойств поверхности с помощью измерения силовых кривых в точке
6. Методика измерения локальных механических свойств поверхности с помощью метода прыжковой сканирующей зондовой микроскопии.
Краткое описание прибора
Сканирующий зондовый микроскоп работающий в контактной, полуконтактной и прыжковой моде с широким набором методик измерения рельефа поверхности ( в том числе с метрологической точностью), локальных механических, электрических и магнитных свойств.
ИНТЕГРА Спектра поддерживает большинство существующих на сегодняшний день АСМ методов (более 30), позволяющих проводить исследования с нанометровым разрешением. Использование совокупности этих методов предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многие другие.
Возможность одновременного с АСМ исследования одного и того же участка образца с применением методов конфокальной спектроскопии и флуоресцентного анализа позволяет получить данные о химическом составе, кристаллической структуре и ее ориентации, присутствии примесей и дефектов, формы макромолекул и пр.
Спецификация
| Тип сканирования | Сканирование образцом | |
|---|---|---|
| Размер образца | До 40 мм в диаметре, до 15 мм высотой | |
| Вес образца | До 100 г | |
| Позиционирование в плоскости XY | 5×5 мм | |
| Точность позиционирования | Точность измерения – 5 um чувствительность – 2 um | |
| Диапазон сканирования | 100x100x10 um | |
| Нелинейность, XY (с датчиками обратной связи) | ≤0.1% | |
| Уровень шума, Z (RMS в диапазоне до 1000 Hz) | С включенными датчикам | 0.04 nm (типичный), ≤0.06 nm |
| Уровень шума Z (RMS i в диапазоне до 1000 Hz) | Без датчиков обратной связи | 0.03 nm |
| Уровень шума, XY> (RMS в диапазоне до 200 Hz) | С включенными датчиками | 0.2 nm (типичный), ≤0.3 nm (XY 100 um) |
Уровень шума, XY> (RMS в диапазоне до 200 Hz) Без датчиков обратной связи | Без датчиков обратной связи | 0.02 nm (XY 100 um), 0.001 nm (XY 3 um) |
| Ошибка оценки линейных размеров (с включенными датчиками) | ± 0.5% | |
| Виброизоляция | Пассивная | Выше 1 kHz |
https://ntmdt-russia.com/home/products/ntegra-spectra/
Список статей
2021
https://doi.org/10.1016/j.jconrel.2020.11.051
https://doi.org/10.1364/BOE.413845
2020
https://cyberleninka.ru/article/n/izuchenie-poverhnosti-plenok-hitozana-i-ego-soley-s-organicheskimi-kislotami-metodom-atomno-silovoy-mikroskopii