Понедельник |
Вторник |
Среда |
Четверг |
Пятница |
Суббота |
|
---|---|---|---|---|---|---|
Пн |
Вт |
Ср |
Чт |
Пт |
Сб |
|
08:20
09:50 |
||||||
10:00
11:35 |
||||||
12:05
13:40 |
ПРАКТИКА
З
с 3 февраля
Фотоэлектрические явления в полупроводниках
1252 гр. Институт физики
8 корп. 322 ауд.
ЛЕКЦИЯ
Ч
с 10 февраля
Физика полупроводниковых приборов
1252 гр. Институт физики
8 корп. 322 ауд.
|
|||||
13:50
15:25 |
ЛАБОРАТОРНАЯ
с 3 февраля
Физика полупроводниковых приборов
1252 гр. Институт физики
8 корп. 322 ауд.
|
ЛАБОРАТОРНАЯ
Твердотельная электроника
4052 гр. Институт физики
8 корп. ауд. 322
|
||||
15:35
17:10 |
ПРАКТИКА
З
с 3 февраля
Научно-исследовательская работа
1252 гр. Институт физики
8 корп. 322 ауд.
ЛЕКЦИЯ
Ч
Основы метрологии и метрологического обеспечения
3052 гр. Институт физики
8 корп. ауд. 322
|
ЛАБОРАТОРНАЯ
Твердотельная электроника
4052 гр. Институт физики
8 корп. ауд. 322
|
||||
17:20
18:40 |
ПРАКТИКА
Ч
Основы метрологии и метрологического обеспечения
3052 гр. Институт физики
8 корп. ауд. 322
|
|||||
18:45
20:05 |
||||||
20:10
21:30 |
Дата | Отчётность / Дисциплина | Группа / Подразделение | Место проведения |
---|---|---|---|
4 декабря 2024 г. 10:00 |
Зачет Методы измерений и испытаний полупроводниковых структур электроники |
4052гр., Институт физики
Д/о |
8 корп. 323 ауд. |
17 декабря 2024 г. 14:00 |
Консультация Методы измерений и испытаний полупроводниковых структур электроники |
4052гр., Институт физики
Д/о |
8 корп. 322 ауд. |
18 декабря 2024 г. 10:00 |
Экзамен Методы измерений и испытаний полупроводниковых структур электроники |
4052гр., Институт физики
Д/о |
8 корп. 322 ауд. |
18 декабря 2024 г. 12:00 |
Зачет Полупроводниковая волновая электроника |
2252гр., Институт физики
Д/о |
8 корп. 322 ауд. |
18 декабря 2024 г. 14:00 |
Дифференцированный зачет Вычислительная практика |
3052гр., Институт физики
Д/о |
8 корп. 322 ауд. |
19 декабря 2024 г. 10:00 |
Зачет Введение в учебный процесс |
1051гр., Институт физики
Д/о |
8 корп.322 ауд. |
19 декабря 2024 г. 12:00 |
Зачет Научно-исследовательская работа |
1252гр., Институт физики
Д/о |
8 корп. 322 ауд. |
19 декабря 2024 г. 14:00 |
Зачет Научно-исследовательская работа |
2252гр., Институт физики
Д/о |
8 корп. 322 ауд. |
20 декабря 2024 г. 10:00 |
Зачет Методы и средства измерений, испытаний и контроля при производстве изделий электронной техники |
1252гр., Институт физики
Д/о |
8 корп. 322 ауд. |
20 декабря 2024 г. 14:00 |
Зачет Твердотельная и вакуумная СВЧ микроэлектроника |
2252гр., Институт физики
Д/о |
8 корп. 322 ауд. |
10 января 2025 г. 10:00 |
Консультация Метрологическое обеспечение в научных и образовательных орга |
1292гр., Институт физики
Д/о |
8 корп. 322 ауд. |
13 января 2025 г. 10:00 |
Экзамен Метрологическое обеспечение в научных и образовательных орга |
1292гр., Институт физики
Д/о |
8 корп. 322 ауд. |
14 января 2025 г. 14:00 |
Консультация Компьютерные технологии в научных исследованиях |
1252гр., Институт физики
Д/о |
8 корп. 322 ауд. |
15 января 2025 г. 10:00 |
Экзамен Компьютерные технологии в научных исследованиях |
1252гр., Институт физики
Д/о |
8 корп. 322 ауд. |
17 января 2025 г. 10:00 |
Консультация Влияние излучений различной природы на свойства материалов |
2291гр., Институт физики
Д/о |
8 корп. 322 ауд. |
20 января 2025 г. 10:00 |
Экзамен Влияние излучений различной природы на свойства материалов |
2291гр., Институт физики
Д/о |
8 корп. 322 ауд. |
21 января 2025 г. 14:00 |
Консультация Взаимодействие электромагнитных волн СВЧ, КВЧ, и ИК диапазонов с полупроводниковыми структурами |
2252гр., Институт физики
Д/о |
8 корп. 322 ауд. |
22 января 2025 г. 10:00 |
Экзамен Взаимодействие электромагнитных волн СВЧ, КВЧ, и ИК диапазонов с полупроводниковыми структурами |
2252гр., Институт физики
Д/о |
8 корп. 322 ауд. |