Саратовский национальный исследовательский государственный университет имени Н.Г. Чернышевского
ОСНОВАН В 1909 ГОДУ
  • ВЕРСИЯ ДЛЯ СЛАБОВИДЯЩИХ
наверх
Расписание занятий
Понедельник
Вторник
Среда
Четверг
Пятница
Суббота
Пн
Вт
Ср
Чт
Пт
Сб
08:20
09:50
10:00
11:35
ПРАКТИКА
Ч
Научно-исследовательская работа
2252 гр. Институт физики
8 корп. 322 ауд.
ПРАКТИКА
Твердотельная и вакуумная СВЧ микроэлектроника
2252 гр. Институт физики
8 корп. 322 ауд.
12:05
13:40
ЛЕКЦИЯ
4052 гр. Институт физики
8 корп. ауд. 322
ЛЕКЦИЯ
Методы измерений и испытаний полупроводниковых структур электроники
4052 гр. Институт физики
8 корп. 322 ауд.
ПРАКТИКА
Ч
Метрологическое обеспечение в научных и образовательных орга
1292 гр. Институт физики
8 корп. 307 ауд.
ЛЕКЦИЯ
З
Метрологическое обеспечение в научных и образовательных орга
1292 гр. Институт физики
8 корп. 307 ауд.
13:50
15:25
ПРАКТИКА
З
Введение в учебный процесс
1051 гр. Институт физики
5 корп. 5 ауд.
ЛАБОРАТОРНАЯ
Методы измерений и испытаний полупроводниковых структур электроники
4052 гр. Институт физики
8 корп. 322 ауд.
ПРАКТИКА
4052 гр. Институт физики
8 корп. ауд. 322
ЛЕКЦИЯ
Компьютерные технологии в научных исследованиях
1252 гр. Институт физики
8 корп. 322 ауд.
ПРАКТИКА
Компьютерные технологии в научных исследованиях
1252 гр. Институт физики
8 корп. 322 ауд.
ПРАКТИКА
Ч
Взаимодействие электромагнитных волн СВЧ, КВЧ, и ИК диапазонов с полупроводниковыми структурами
2252 гр. Институт физики
8 корп. 322 ауд.
ЛЕКЦИЯ
З
Взаимодействие электромагнитных волн СВЧ, КВЧ, и ИК диапазонов с полупроводниковыми структурами
2252 гр. Институт физики
8 корп. 322 ауд.
15:35
17:10
ПРАКТИКА
4052 гр. Институт физики
8 корп. ауд. 322
ЛАБОРАТОРНАЯ
Методы измерений и испытаний полупроводниковых структур электроники
4052 гр. Институт физики
8 корп. 322 ауд.
ЛАБОРАТОРНАЯ
Методы и средства измерений, испытаний и контроля при производстве изделий электронной техники
1252 гр. Институт физики
8 корп. 322 ауд.
ЛЕКЦИЯ
Ч
Полупроводниковая волновая электроника
2252 гр. Институт физики
8 корп. 322 ауд.
ПРАКТИКА
З
Полупроводниковая волновая электроника
2252 гр. Институт физики
8 корп. 322 ауд.
17:20
18:40
ПРАКТИКА
З
Методы измерений и испытаний полупроводниковых структур электроники
4052 гр. Институт физики
8 корп. 322 ауд.
ПРАКТИКА
Ч
Научно-исследовательская работа
1252 гр. Институт физики
8 корп. 322 ауд.
ПРАКТИКА
З
4052 гр. Институт физики
8 корп. ауд. 322
18:45
20:05
20:10
21:30
Расписание сессии
Дата Отчётность / Дисциплина Группа / Подразделение Место проведения
29 апреля 2024 г. 10:00

Зачет

Твердотельная электроника

4052гр., Институт физики

Д/о

8 корп. 322 ауд.
21 мая 2024 г. 10:00

Зачет

Научно-исследовательска работа

1252гр., Институт физики

Д/о

8 корп. 322 ауд.
21 мая 2024 г. 12:00

Дифференцированный зачет

Курсовая работа

3052гр., Институт физики

Д/о

8 корп. 322 ауд.
22 мая 2024 г. 13:00

Зачет

Основы метрологии и метрологического обеспечения

3052гр., Институт физики

Д/о

8 корп. 320 ауд.
23 мая 2024 г. 10:00

Зачет

Физика полупроводниковых приборов

1252гр., Институт физики

Д/о

8 корп. 322 ауд.
10 июня 2024 г. 14:00

Консультация

Основы метрологии и метрологического обеспечения

3052гр., Институт физики

Д/о

8 корп. 322 ауд.
10 июня 2024 г. 15:00

Консультация

Физика полупроводниковых приборов

1252гр., Институт физики

Д/о

8 корп. 322 ауд.
11 июня 2024 г. 10:00

Экзамен

Основы метрологии и метрологического обеспечения

3052гр., Институт физики

Д/о

8 корп. 322 ауд.
11 июня 2024 г. 12:00

Экзамен

Физика полупроводниковых приборов

1252гр., Институт физики

Д/о

8 корп. 322 ауд.

Расписание сессии еще не заполнено!