наверх
Расписание занятий
Понедельник |
Вторник |
Среда |
Четверг |
Пятница |
Суббота |
|
---|---|---|---|---|---|---|
Пн |
Вт |
Ср |
Чт |
Пт |
Сб |
|
08:20
09:50 |
||||||
10:00
11:35 |
ПРАКТИКА
Ч
Научно-исследовательская работа
2252 гр. Институт физики
8 корп. 322 ауд.
|
ПРАКТИКА
Твердотельная и вакуумная СВЧ микроэлектроника
2252 гр. Институт физики
8 корп. 322 ауд.
|
||||
12:05
13:40 |
ЛЕКЦИЯ
4052 гр. Институт физики
8 корп. ауд. 322
ЛЕКЦИЯ
Методы измерений и испытаний полупроводниковых структур электроники
4052 гр. Институт физики
8 корп. 322 ауд.
|
ПРАКТИКА
Ч
Метрологическое обеспечение в научных и образовательных орга
1292 гр. Институт физики
8 корп. 307 ауд.
ЛЕКЦИЯ
З
Метрологическое обеспечение в научных и образовательных орга
1292 гр. Институт физики
8 корп. 307 ауд.
|
||||
13:50
15:25 |
ПРАКТИКА
З
Введение в учебный процесс
1051 гр. Институт физики
5 корп. 5 ауд.
|
ЛАБОРАТОРНАЯ
Методы измерений и испытаний полупроводниковых структур электроники
4052 гр. Институт физики
8 корп. 322 ауд.
ПРАКТИКА
4052 гр. Институт физики
8 корп. ауд. 322
|
ЛЕКЦИЯ
Компьютерные технологии в научных исследованиях
1252 гр. Институт физики
8 корп. 322 ауд.
ПРАКТИКА
Компьютерные технологии в научных исследованиях
1252 гр. Институт физики
8 корп. 322 ауд.
|
ПРАКТИКА
Ч
Взаимодействие электромагнитных волн СВЧ, КВЧ, и ИК диапазонов с полупроводниковыми структурами
2252 гр. Институт физики
8 корп. 322 ауд.
ЛЕКЦИЯ
З
Взаимодействие электромагнитных волн СВЧ, КВЧ, и ИК диапазонов с полупроводниковыми структурами
2252 гр. Институт физики
8 корп. 322 ауд.
|
||
15:35
17:10 |
ПРАКТИКА
4052 гр. Институт физики
8 корп. ауд. 322
ЛАБОРАТОРНАЯ
Методы измерений и испытаний полупроводниковых структур электроники
4052 гр. Институт физики
8 корп. 322 ауд.
|
ЛАБОРАТОРНАЯ
Методы и средства измерений, испытаний и контроля при производстве изделий электронной техники
1252 гр. Институт физики
8 корп. 322 ауд.
|
ЛЕКЦИЯ
Ч
Полупроводниковая волновая электроника
2252 гр. Институт физики
8 корп. 322 ауд.
ПРАКТИКА
З
Полупроводниковая волновая электроника
2252 гр. Институт физики
8 корп. 322 ауд.
|
|||
17:20
18:40 |
ПРАКТИКА
З
Методы измерений и испытаний полупроводниковых структур электроники
4052 гр. Институт физики
8 корп. 322 ауд.
ПРАКТИКА
Ч
Научно-исследовательская работа
1252 гр. Институт физики
8 корп. 322 ауд.
ПРАКТИКА
З
4052 гр. Институт физики
8 корп. ауд. 322
|
|||||
18:45
20:05 |
||||||
20:10
21:30 |
Расписание сессии
Дата | Отчётность / Дисциплина | Группа / Подразделение | Место проведения |
---|---|---|---|
29 апреля 2024 г. 10:00 |
Зачет Твердотельная электроника |
4052гр., Институт физики
Д/о |
8 корп. 322 ауд. |
21 мая 2024 г. 10:00 |
Зачет Научно-исследовательска работа |
1252гр., Институт физики
Д/о |
8 корп. 322 ауд. |
21 мая 2024 г. 12:00 |
Дифференцированный зачет Курсовая работа |
3052гр., Институт физики
Д/о |
8 корп. 322 ауд. |
22 мая 2024 г. 13:00 |
Зачет Основы метрологии и метрологического обеспечения |
3052гр., Институт физики
Д/о |
8 корп. 320 ауд. |
23 мая 2024 г. 10:00 |
Зачет Физика полупроводниковых приборов |
1252гр., Институт физики
Д/о |
8 корп. 322 ауд. |
10 июня 2024 г. 14:00 |
Консультация Основы метрологии и метрологического обеспечения |
3052гр., Институт физики
Д/о |
8 корп. 322 ауд. |
10 июня 2024 г. 15:00 |
Консультация Физика полупроводниковых приборов |
1252гр., Институт физики
Д/о |
8 корп. 322 ауд. |
11 июня 2024 г. 10:00 |
Экзамен Основы метрологии и метрологического обеспечения |
3052гр., Институт физики
Д/о |
8 корп. 322 ауд. |
11 июня 2024 г. 12:00 |
Экзамен Физика полупроводниковых приборов |
1252гр., Институт физики
Д/о |
8 корп. 322 ауд. |