наверх
Дата последнего обновления:
28.01.2026
Расписание занятий:
Стецюра
Светлана Викторовна
Понедельник |
Вторник |
Среда |
Четверг |
Пятница |
Суббота |
|
|---|---|---|---|---|---|---|
Пн |
Вт |
Ср |
Чт |
Пт |
Сб |
|
|
08:20
09:50 |
||||||
|
10:00
11:35 |
ЛЕКЦИЯ
Физические процессы в материалах под действием оптического
3091 гр. Институт физики
Место не назначено
|
ЛЕКЦИЯ
Статистические методы в управлении качеством
4101 гр. Институт физики
Место не назначено
|
ПРАКТИКА
З
Нанометрология и нанодиагностика
1301 гр. Институт физики
Место не назначено
ЛЕКЦИЯ
Ч
Нанометрология и нанодиагностика
1301 гр. Институт физики
Место не назначено
|
|||
|
12:05
13:40 |
ПРАКТИКА
З
Многослойные микро- и наноструктуры
2291 гр. Институт физики
Место не назначено
ПРАКТИКА
Ч
Физические процессы в материалах под действием оптического
3091 гр. Институт физики
Место не назначено
|
ПРАКТИКА
Статистические методы в управлении качеством
4101 гр. Институт физики
Место не назначено
|
ЛЕКЦИЯ
Материаловедение: технические и биотехнические материалы
2081 гр. Институт физики
Место не назначено
ЛЕКЦИЯ
Основы материаловедения
2101, 2111 гр. Институт физики
Место не назначено
|
|||
|
13:50
15:25 |
ПРАКТИКА
З
Многослойные микро- и наноструктуры
2291 гр. Институт физики
Место не назначено
|
ЛАБОРАТОРНАЯ
Статистические методы в управлении качеством
4101 гр. Институт физики
Место не назначено
|
||||
|
15:35
17:10 |
||||||
|
17:20
18:40 |
||||||
|
18:45
20:05 |
||||||
|
20:10
21:30 |
Дата последнего обновления:
28.01.2026
Расписание сессии:
Стецюра
Светлана Викторовна
| Дата | Отчётность / Дисциплина | Группа / Подразделение | Место проведения |
|---|---|---|---|
| 28 января 2026 г. 10:00 |
Экзамен Основы материаловедения многокомпонентных материалов |
3091гр., Институт физики
Д/о |
Место не назначено |
| Заочная форма обучения | |||
| 4 декабря 2025 г. 13:50 |
Лекция Основы технологических процессов на производстве |
5001гр., Институт физики
Д/о |
Место не назначено |
| 4 декабря 2025 г. 15:35 |
Лекция Основы технологических процессов на производстве |
5001гр., Институт физики
Д/о |
Место не назначено |
| 4 декабря 2025 г. 17:20 |
Практика Основы технологических процессов на производстве |
5001гр., Институт физики
Д/о |
Место не назначено |
| 5 декабря 2025 г. 13:50 |
Лекция Основы технологических процессов на производстве |
5001гр., Институт физики
Д/о |
Место не назначено |
| 5 декабря 2025 г. 15:35 |
Практика Основы технологических процессов на производстве |
5001гр., Институт физики
Д/о |
Место не назначено |
| 5 декабря 2025 г. 17:20 |
Практика Основы технологических процессов на производстве |
5001гр., Институт физики
Д/о |
Место не назначено |
| 8 декабря 2025 г. 12:05 |
Экзамен Основы технологических процессов на производстве |
5001гр., Институт физики
Д/о |
Место не назначено |
| 8 декабря 2025 г. 13:50 |
Лекция Статистические методы в управлении качеством |
5001гр., Институт физики
Д/о |
Место не назначено |
| 8 декабря 2025 г. 15:35 |
Лекция Статистические методы в управлении качеством |
5001гр., Институт физики
Д/о |
Место не назначено |
| 8 декабря 2025 г. 17:20 |
Практика Статистические методы в управлении качеством |
5001гр., Институт физики
Д/о |
Место не назначено |
| 9 декабря 2025 г. 10:00 |
Лекция Статистические методы в управлении качеством |
5001гр., Институт физики
Д/о |
Место не назначено |
| 9 декабря 2025 г. 12:05 |
Практика Статистические методы в управлении качеством |
5001гр., Институт физики
Д/о |
Место не назначено |
| 9 декабря 2025 г. 13:50 |
Практика Статистические методы в управлении качеством |
5001гр., Институт физики
Д/о |
Место не назначено |
| 9 декабря 2025 г. 15:35 |
Практика Статистические методы в управлении качеством |
5001гр., Институт физики
Д/о |
Место не назначено |
| 11 декабря 2025 г. 10:00 |
Зачет Статистические методы в управлении качеством |
5001гр., Институт физики
Д/о |
Место не назначено |
| 11 декабря 2025 г. 12:05 |
Экзамен Статистические методы в управлении качеством |
5001гр., Институт физики
Д/о |
Место не назначено |
| 23 января 2026 г. 17:20 |
Лекция Нанометрология и стандартизация в нанотехнологиях |
2201гр., Институт физики
Д/о |
Место не назначено |
| 28 января 2026 г. 17:20 |
Лекция Нанометрология и стандартизация в нанотехнологиях |
2201гр., Институт физики
Д/о |
Место не назначено |
| 30 января 2026 г. 15:35 |
Дифференцированный зачет Патентоведческая практика |
1201гр., Институт физики
Д/о |
Место не назначено |
| 30 января 2026 г. 17:20 |
Лекция Научно-исследовательская работа 1 |
1201гр., Институт физики
Д/о |
Место не назначено |
| 2 февраля 2026 г. 13:50 |
Практика Нанометрология и стандартизация в нанотехнологиях |
2201гр., Институт физики
Д/о |
Место не назначено |
| 2 февраля 2026 г. 15:35 |
Практика Нанометрология и стандартизация в нанотехнологиях |
2201гр., Институт физики
Д/о |
Место не назначено |
| 2 февраля 2026 г. 17:20 |
Лекция Научно-исследовательская работа 2 |
2201гр., Институт физики
Д/о |
Место не назначено |